Rastreabilidade metrológica de valores de propriedade de materiais de referência certificados
2013, Boletim
2013

Rastreabilidade metrológica de valores de propriedade de materiais de referência certificados

Boletim
Publicado 2013-06-30
Miriam Solange Fernandes CARUSO
Centro de Materiais de Referência – Instituto Adolfo Lutz
Camila Cardoso de OLIVEIRA
Centro de Materiais de Referência – Instituto Adolfo Lutz
Alice Momoyo SAKUMA
Centro de Materiais de Referência – Instituto Adolfo Lutz
Daniel GRANATO
Universidade Estadual de Ponta Grossa, Paraná
Capa do Boletim do Instituto Adolfo Lutz, ano 23, número 1, de 2013.
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Como Citar

Solange Fernandes CARUSO, M., Cardoso de OLIVEIRA, C., Momoyo SAKUMA, A., & GRANATO, D. (2013). Rastreabilidade metrológica de valores de propriedade de materiais de referência certificados. Boletim Do Instituto Adolfo Lutz - BIAL , 44–45. Recuperado de https://periodicos.saude.sp.gov.br/BIAL/article/view/39959
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Referências

INMETRO. Vocabulário Internacional de Metrologia: Conceitos fundamentais e gerais e termos associados. 1.ed. Luso-Brasileira. Rio de Janeiro; 2012.

Associação Brasileira de Normas Técnicas. ISO Guia 34. Requisitos gerais para a competência de produtores de material de referência. Rio de Janeiro; 2012.

INMETRO. Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia [Internet]. [acesso em 2013 dez 9]. Disponível em: [http://www.inmetro.gov.br/inmetro/oque.asp]

BIPM. Bureau International des Poids et Mesures [Internet]. [acesso em 2013 dez 9].Disponível em: [http://www.bipm. org].

Associação Brasileira de Normas Técnicas. ISO Guia 31. Materiais de referência: Conteúdo de certificado e rótulos. Rio de Janeiro; 2004

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